685-069171-100 高精度光谱仪/可以测量几埃以内的薄膜厚度

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产品明细：

LAM 685-069171-100 是一款高精度光谱仪，可以测量几埃以内的薄膜厚度。它也非常可靠，无需维修即可运行多年。

LAM 685-069171-100 是半导体制造商的关键设备，用于各种应用，包括：
蚀刻工艺监控
薄膜厚度测量
缺陷检测
过程控制

685-069171-100

英语明细:

The LAM 685-069171-100 is a high-precision spectrometer that can measure thin film thickness to within a few angestas. It is also very reliable and can operate for years without maintenance.

The LAM 685-069171-100 is a key device for semiconductor manufacturers for a variety of applications, including:
Etching process monitoring
Film thickness measurement
Defect detection
Process control

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成都阳光熹禾电气有限公司专业销售世界各大电气品牌产品产品海外直接采购，正品库存，价格优惠售后保修，型号齐全，一样的产品，不一样的价格与服务。

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